内页banner

Graticules Optics

当前位置:首页>产品中心>校准/标定工具>Graticules Optics

联系我们

北京萨尔笛科技有限公司

电 话:010-82895362

传 真:010-82894577

邮 箱:imaging@scientificimaging.cn

地 址:北京市海淀区上地信息路1号国际科技创业园1—1705

光学分辨率测试靶_点阵网格

光学分辨率测试靶_点阵网格

  • 所属分类:Graticules Optics
  • 浏览次数: 346 次
  • 发布时间:2024-04-25 11:41:59
  • 资料下载:
  • 详细介绍

该产品主要用于测试光学和成像系统中图像的面积、畸变、视场平整度等参数。三个阵列区域提供了不同放大倍数或域大小的选项。


型号

描述

图示

R76

3个图像区域

12x9阵列1mm点,5mm间距

16x12阵列0.5mm点,2mm间距

24x18阵列0.2mm点,1mm间距。

optical-resolution-charts-r76-dot-array-pattern.jpg


标签

联系我们

全国服务热线

010-82895362

网址:https://www.scientificimaging.cn

邮箱:imaging@scientificimaging.cn

地址:北京市海淀区上地信息路1号国际科技创业园1—1705